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電子組件振動(dòng)試驗(yàn)法

更新時(shí)間:2013-01-26      點(diǎn)擊次數(shù):1963

 

中國國家標(biāo)準(zhǔn)  

編號 3629

CNS         電子組件振動(dòng)試驗(yàn)法  類號 C6016

Vibration  Testing  Procedures  for  Electronic  Components

1、適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用以測定電子組件(以下簡稱組件)于運(yùn)輸或使用中承受振動(dòng)之耐久性能之試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。

注:試驗(yàn)方法Ⅰ適用于測定對一般振動(dòng)之耐久性,試驗(yàn)方法Ⅱ適用于測定共振點(diǎn)及試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點(diǎn)之偏距,試驗(yàn)方法Ⅲ適用于測定在共振點(diǎn)之耐久性。

2、裝置:振動(dòng)裝置應(yīng)能作表中所示各種試驗(yàn)且符合下列條件。

1)振動(dòng)波形及失真率:施加于供試品之振動(dòng)波形為正弦波,供試品安裝位置之振動(dòng)加速度波形之備波含有率應(yīng)為25%以下。

2)振動(dòng)振幅:規(guī)定振動(dòng)方向之振幅容許差,須為規(guī)定值之±15%以內(nèi)。

3)與規(guī)定振動(dòng)方向垂直之振動(dòng):于供試品安裝位置,與規(guī)定振動(dòng)方向垂直之振動(dòng),不論任何方向,其振幅應(yīng)為規(guī)定方向之25%以下。

4)振動(dòng)頻率容許差:50Hz以下就為±1Hz,超過50Hz時(shí)應(yīng)為±2%。

5)掃描(1)方法:原則是為對數(shù)掃描,但平均掃描亦可。

注:(11次掃描,例如1055——10Hz,是指在規(guī)定振動(dòng)頻率范圍作1次往復(fù)之頻率變化。

3、準(zhǔn)備

3供試品之安裝:將供試品依組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方法,直接或使用夾具堅(jiān)固地安裝于振動(dòng)臺上。使用夾具時(shí),須能施加振動(dòng)于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方向,且夾具應(yīng)具足夠機(jī)械強(qiáng)度,安裝后亦不得松動(dòng)或發(fā)生共振,組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定下列任一種安裝方法。

1 固定組件本體(有導(dǎo)線之組件,亦同時(shí)固定導(dǎo)線)。

2 僅固定導(dǎo)線。

4、試驗(yàn)

4前處理:原則上不作前處理。但有特別需要時(shí),依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。

4初期測定:依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行,檢查外觀。

4試驗(yàn)方法:依下列各項(xiàng)施行。如裝置產(chǎn)生磁導(dǎo)且供試品易受磁場影響時(shí),于組件中應(yīng)規(guī)定其zui大允許值。

43試驗(yàn)方法種類:試驗(yàn)方法分為Ⅰ(掃描耐久試驗(yàn))、Ⅱ(共振點(diǎn)偏移檢出試驗(yàn))及Ⅲ(共振點(diǎn)耐久試驗(yàn))三種。

1)試驗(yàn)方法Ⅰ(掃描耐久試驗(yàn)):依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定,照下表施行(參照圖)。

振動(dòng)原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗(yàn)時(shí)間各方向均相同,合計(jì)6小時(shí)。

                                                                          

   振動(dòng)種類

試驗(yàn)條件

種類A

種類B

種類C

振動(dòng)頻率范圍

1055Hz

100500Hz

102000Hz

全振幅或加速度

15mm

15mm98m/s210G)中較小者

15mm196m/s220G)中較小者

掃描之比例

10-55-10Hz

1分鐘

10-500-10Hz15分鐘

10-2000-10Hz20分鐘

掃描方法

對數(shù)掃描或平均掃描

試驗(yàn)時(shí)間

6小時(shí)

2)試驗(yàn)方法Ⅱ(共振點(diǎn)偏移檢出試驗(yàn)):本試驗(yàn)是于4311)及4313)試驗(yàn)前后施行,以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時(shí)之振幅與掃描耐久試驗(yàn)相同。但如由于減小振幅更能檢出振動(dòng)特性??蓽p小振幅。

 

                                                                                                *次修訂:66420(共2頁)

                                                                                            訂日 

62118               經(jīng) 濟(jì)    標(biāo) 準(zhǔn)                                                                      

 CNS3629, C 6016                                  2

在掃描中檢出共振點(diǎn)時(shí),減低規(guī)定之掃描程度,必要時(shí)可停止掃描。于掃描耐入試驗(yàn)前后檢出之共振頻率,均應(yīng)予以記錄。

3)試驗(yàn)方法Ⅲ(共振點(diǎn)耐久試驗(yàn)):本試驗(yàn)是就規(guī)定各振動(dòng)方向之振動(dòng)頻率,依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定,于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之振動(dòng)頻率范圍內(nèi)作下列時(shí)間之試驗(yàn)。

10分鐘     30分鐘      90分鐘    10小時(shí)      10周(cycle

432  電負(fù)載:組件標(biāo)準(zhǔn)有規(guī)定時(shí),于4311)、(2)、(3)試驗(yàn)中,施加電負(fù)載。

433  后處理:原則上不作處后處理,但如有特別需要時(shí),使組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。

4zui終測定:依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行,且檢查外觀。

5、組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定事項(xiàng)

1       安裝(安裝用具及安裝方法)(參照31節(jié))

2       前處理?xiàng)l件(有需要時(shí))(參照41節(jié))

3       初期測定項(xiàng)目(參照42節(jié))

4       磁場影響(參照43節(jié))

5       振動(dòng)試驗(yàn)方法種類及試驗(yàn)條件(參照4311)、(2)、(3))

6       電負(fù)載條件(參照432節(jié))

7       振動(dòng)試驗(yàn)中之測定項(xiàng)目(有需要時(shí))(參照433節(jié))

8       后處理?xiàng)l件(有需要時(shí)局(參照44節(jié))

9       zui終測定項(xiàng)目(參照45節(jié))

10    其他特別需要事項(xiàng)

 

 

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